ライン

教育・訓練事業 ご案内

ライン

2日でマスターするソフトウェアテスト


 セミナー名

2日でマスターするソフトウェアテスト

 対象

・システムテストの計画者
・組み込みソフトを持つ製品の開発者

 内容

直交表を活用した網羅率100%テストの設計

組み込みソフトを持つ製品において、ソフトウェアやシステム開発時における品質の重要性が非常に高くなってきており、テストや試験の抜け落ちが製品の重大な品質事故につながるケースが発生しています。しかしながら、ソフトウェア開発時において、網羅性の高いテストを行うには無限の組み合わせが必要で、それを満たすにはシステムテストの知識だけでは難しいのが現状です。
当セミナーは、直交表を活用することで、効果的、効率的にテスト設計を行い、最小限で網羅性の高い組み合わせテスト設計方法を学ぶことができます。また、理論を最小限にし、演習やテストシュミレーションを通じて試験方法を学ぶため、すぐに実務に役立ちます。初めて学ぶ方から実践力をつけたい方まで幅広い方々に最適なセミナーです。


<コースの特徴>

直交表を活用した効果的なテスト設計をやさしく学びます。

組み込みソフトを持つ製品を対象とした確実な試験方法を習得することができます。

演習やテストシミュレーションにより、すぐに実務に役立つ内容です。

開発時のバグ取り試験の抜け落ちによるクレーム発生の防止に最適なコースです。

 会場

大 阪 :中央電気倶楽部

 参加費

56,700円(一般) / 51,450円(会員)  ※ 割り付けソフト付

 開催日程

回数

開催日

会場

1

2012年6月21日(木)〜22日(金)

大阪

 カリキュラム

第1日目
9:30〜18:00

何のためにシステム試験をおこなうか(試験抜け落ちによる損失発生と信用の失墜)

システム試験の概要(システムの種類、試験の性質)

試験によるバグの発生形態(システム試験による故障モード)

網羅試験の作成方法(HAYST法、all-pair法、その他)

直交表を用いた試験計画(直交表の性質、パラメータの種類、割付方法)

直交表を用いた試験計画作成演習@ (パラメータ15個程度の演習+発表)

第2日目
9:00〜17:30

1日目の質問とまとめ

直交表の種類と多水準因子の作成(禁則条件、多水準、組み合わせ法)

直交表を用いた試験計画作成演習A(禁則条件、多水準、組み合わせ法+発表)

試験結果の解析(バグの種類と解析)

試験結果の解析演習(part-cont法、ワイブル解析他)

実務への適時の注意点

因子の決定時のポイント

まとめ(2日間のまとめとアドバイス)

 お申込み方法

 備考

【セミナーお申込みに関するキャンセルの取扱いとお願い】

@

セミナーをお申込みいただきまして、止むを得ない事由により、受講者の都合が悪くなった場合には、恐縮でございますが、出来るだけ代理の方のご参加をお願い申し上げます(セミナー開催途中の参加者の変更は不可)。

A

セミナーの参加をキャンセルされる場合には、セミナー受付に電話、メールまたはFAXにて事前にご連絡をお願いいたします。
なお、その際、ご連絡の日にちにより、次のキャンセル料をご負担いただきます。

 

 【キャンセル料】
 ・セミナー開催日の7日前〜2日前のキャンセル−受講料の20%
 ・セミナー開催前日〜当日のキャンセル−受講料の50%
 ・事前のご連絡がなかった場合−受講料の100%

〔注〕

宿泊や個別(班別)指導をともなう一部のセミナーについては、上記とは異なるキャンセル料を設定しておりますのでご注意ください。

【セミナーの振替受講について】

お申込みいただきましたセミナーに、受講生の方が参加できず、また代理の方がいない場合は、年度内に開催される同じセミナーに、「振替受講」ができます(複数回開催セミナーのみ)。
「振替受講」は、一度目は無料ですが、二度目以降の場合には、通常の参加費に加え、参加費の10%を振替受講手数料として申し受けますので予めご了承ください。

振替受講を希望される場合には、必ずセミナー開催日の7日前午後5時までにセミナー受付に電話、メールまたはFAXにてご連絡をお願いいたします。

【セミナーのキャンセル、振替受講に関するお問い合せ先】

<セミナー受付>
〒151-0051 東京都渋谷区千駄ヶ谷5−10−11
TEL:03‐5379-1233
FAX:03‐3225-1814
E-mail:regist@juse.or.jp

 お問い合せ先

日本科学技術連盟 大阪事務所 ST係
TEL:06-6341-4627/FAX:06-6341-4615
E-mail:juseosaka@juse.or.jp

Copyright (C) Union of Japanese Scientists and Engineers. All Rights Reserved.